TY - GEN AU - M. Coll AU - J. Fontcuberta AU - M. Althammer AU - M. Bibes AU - H. Boschker AU - A. Calleja AU - G. Cheng AU - M. Cuoco AU - R. Dittmann AU - B. Dkhil AU - I. El Baggari AU - M. Fanciulli AU - I. Fina AU - E. Fortunato AU - C. Frontera AU - S. Fujita AU - V. Garcia AU - S.T.B. Goennenwein AU - C.-G. Granqvist AU - J. Grollier AU - R. Gross AU - A. Hagfeldt AU - G. Herranz AU - K. Hono AU - E. Houwman AU - M. Huijben AU - A. Kalaboukhov AU - D.J. Keeble AU - G. Koster AU - L.F. Kourkoutis AU - J. Levy AU - M. Lira-Cantu AU - J.L. MacManus-Driscoll AU - Jochen Mannhart AU - R. Martins AU - S. Menzel AU - T. Mikolajick AU - M. Napari AU - M.D. Nguyen AU - G. Niklasson AU - C. Paillard AU - S. Panigrahi AU - G. Rijnders AU - F. Sánchez AU - P. Sanchis AU - S. Sanna AU - D.G. Schlom AU - U. Schroeder AU - K.M. Shen AU - A. Siemon AU - M. Spreitzer AU - H. Sukegawa AU - R. Tamayo AU - J. van den Brink AU - N. Pryds AU - F. Miletto Granozio T1 - Towards Oxide Electronics: a Roadmap CY - PY - 2019 PB - T3 - Applied Surface Science VL - 482 UR - https://doi.org/https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.03.312 SN - 0169-4332